[광운미디어] 이현호 교수(전자공학과)연구팀, 과잉 전하 주입으로 인한 InP 기반 양자점 발광다이오드(QLED) 열화 원인 …
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000_20250305_[광운미디어] 이현호 교수전자공학과연구팀, 과잉 전하 주입으로 인한 InP 기반 양자점 발광다이오드QLED 열화 원인 규명.pdf (552.5K)
0회 다운로드 | DATE : 2025-03-10 15:44:57
