3단계
| Characterization of Oxide Semiconductors via Random Telegraph Noise |
| 차년도 | 2차년도 | 세부 | 1세부 |
| 학술대회명 | 제 32회 한국반도체학술대회 | 발표년월일 | 20250214 |
| 학술대회 구분 | 국내 | 개최국 | 대한민국 |
| 총 저자수 | 6 | 기여도 | 30 |
| 논문저자명 | 윤경원, 김주원, 현태환, 최현식, 조원주, 박하민 | ||
| PDF 파일 | 
20250214_Characterization of Oxide Semiconductors via Random Telegraph Noise.pdf
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DATE : 2025-08-13 09:34:04
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