2단계
| 파장 튜닝 기반 라인 빔 스캐닝 광위상배열 |
| 차년도 | 3차년도 | 세부 | 1세부 |
| 지식재산권 | 특허 | 출원/등록 | 출원 |
| 출원/등록번호 | 10-2023-0021762 | 출원/등록일 | 20230217 |
| 국내/국제 | 국내 | 출원국가명 | 대한민국 |
| 발명자명 | 이상신, 반다리 비샬, 왕신희, 권지영, 허진무 |
| 출원/등록기관 | 광운대학교 산학협력단, 국방과학연구소 |
| 활용형태 | 기술이전준비중 | 공동특허여부 | 단독 |
| NDAC 사사 (사사개수) |
Y(2) | 기여도 | 50 % |
| PDF 파일 |
20230217_파장 튜닝 기반 라인 빔 스캐닝 광위상배열.pdf
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DATE : 2023-05-31 16:20:11
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