3단계
| Understanding thickness-dependent stability of tungsten-doped indium oxide transistors |
| 차년도 | 1차년도 | 세부 | 1세부 |
| 학술지명 | Applied Physics Letters | 학술지구분 | 국제 |
| 개재년월 | 20241025 | IF | 3.5 |
| 개재권(호) | 125 | 페이지 | 173507 |
| ISSN | 0003-6951 | DOI | https://doi.org/10.1063/5.0228363 |
| 공동연구 | 단독 | JCR 분야 | PHYSICS, APPLIED |
| 제1저자명 | Hyunjin Kim , Hyun-Sik Choi | 교신저자명 | Won-Ju Cho, Hamin Park |
| 총저자명 | Hyunjin Kim, Hyun-Sik Choi, Gyungwon Yun, Won-Ju Cho, Hamin Park | ||
| NDAC 사사 (사사개수) |
Y(4) | 기여도 | 25 % |
| PDF 파일 |
173507_1_5.0228363.pdf
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DATE : 2024-10-31 16:25:22
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