3단계
| Direct Evidence of Excessive Charge-Carrier-Induced Degradation in InP Quantum-Dot Light-Emitting Diodes |
| 차년도 | 1차년도 | 세부 | 3세부 |
| 학술지명 | ACS Applied Materials & Interfaces | 학술지구분 | 국제 |
| 개재년월 | 20241223 | IF | 8.3 |
| 개재권(호) | 페이지 | ||
| ISSN | 1944-8244 | DOI | https://doi.org/10.1021/acsami.4c12250 |
| 공동연구 | 공동 | JCR 분야 | MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY |
| 제1저자명 | Hyungsuk Ryu | 교신저자명 | 이현 |
| 총저자명 | Doyoon Shin, Beomhee Yoon, Wan Ki Bae, Jeonghun Kwak, Hyunho Lee | ||
| NDAC 사사 (사사개수) |
Y(3) | 기여도 | 33 % |
| PDF 파일 |
ryu-et-al-2024-direct-evidence-of-excessive-charge-carrier-induced-degradation-in-inp-quantum-dot-light-emitting-diodes.pdf
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DATE : 2024-12-26 15:14:44
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