2단계
| Bias Temperature Instability of a-IGZO TFTs Under Repeated Stress and Recovery |
| 차년도 | 3차년도 | 세부 | 1세부 |
| 학술지명 | Journal of Electronic Materials | 학술지구분 | 국제 |
| 개재년월 | 20230404 | IF | 2.047 |
| 개재권(호) | 52 | 페이지 | 3914 |
| ISSN | 0361-5235 | DOI | https://doi.org/10.1007/s11664-023-10386-x |
| 공동연구 | 공동 | JCR 분야 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
| 제1저자명 | Yonghee Jeong | 교신저자명 | Hamin Park |
| 총저자명 | Yonghee Jeong, Hyunjin Kim, Jungyeop Oh, Sung-Yool Choi, Hamin Park | ||
| NDAC 사사 (사사개수) |
Y(5) | 기여도 | 20% % |
| PDF 파일 |
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DATE : 2023-05-09 09:42:29
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