3단계
| Temperature-induced interfacial intermixing and trap modulation in ONO-based flash memory capacitors |
| 차년도 | 2차년도 | 세부 | 1세부 |
| 학술지명 | Nanotechnology | 학술지구분 | 국제 |
| 개재년월 | 20250930 | IF | 2.8 |
| 개재권(호) | 36(40) | 페이지 | 405201 |
| ISSN | 0957-4484 | DOI | https://doi.org/10.1088/1361-6528/ae08bf |
| 공동연구 | 단독 | JCR 분야 | PHYSICS, APPLIED |
| 제1저자명 | Hyunseok Son | 교신저자명 | Hamin Park |
| 총저자명 | Hyunseok Son, Kyumin Sim, Hae Chul Hwang, Hamin Park | ||
| NDAC 사사 (사사개수) |
Y(5) | 기여도 | 10 % |
| PDF 파일 |
202509 - Nanotechnology.pdf
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DATE : 2025-11-04 13:57:09
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