3단계
| Tailoring Electrical Stability of Indium Oxide Thin-Film Transistors via Solution Aging-Induced Defect Modulation |
| 차년도 | 2차년도 | 세부 | 1세부 |
| 학술지명 | ACS Applied Electronic Materials | 학술지구분 | 국제 |
| 개재년월 | 20250627 | IF | 4.7 |
| 개재권(호) | 7(13) | 페이지 | 6187–6195 |
| ISSN | 2637-6113 | DOI | https://doi.org/10.1021/acsaelm.5c01021 |
| 공동연구 | 단독 | JCR 분야 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC |
| 제1저자명 | Juwon Kim | 교신저자명 | 박하민 |
| 총저자명 | Juwon Kim, Seung-Jin Lee, Won-Ju Cho, Hamin Park | ||
| NDAC 사사 (사사개수) |
Y(4) | 기여도 | 25 % |
| PDF 파일 |
202506 - ACS AEM.pdf
(3.6M)
0회 다운로드
DATE : 2025-08-04 10:31:21
|
||
